|
![]() | ![]() | |
![]() |
![]() |
|
![]() |
Главная Патентный отдел Технологии Справочник ГРНТИ Прием Наши координаты Обратная связь | ![]() |
![]() |
![]()
|
В данном разделе представлена краткая информация о технологии. Для получения полной информации о технологии, ее разработчиках и производителях, Вам необходимо сделать Заказ (Нажмите на корзинку). После оплаты счета, который Вы получите автоматически, на Ваш email будут отправлены реквизиты предприятия, представившего данную информацию на нашем сайте.
Прецизионные измерения толщин тонких пленок и многослойных структур, спектральных зависимостей оптических констант различных материалов Уникальные возможности: •спектральный диапазон - 250 - 800 нм •спектральное азрешение - 3 нм Гибкое и дружественное программное обеспечение в среде MS Windows 95/98/2000 позволяет: измерение спектральных оптических характеристик поверхности моделирование и расчет толщин пленок и многослойных структур идентификация структурных свойств композиционных материалов |
![]() |
![]() |
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А Сайт открыт 01.11.2000 © 2000-2018 Промышленная Сибирь |
Разработка дизайна сайта: Дизайн-студия "RayStudio" |
![]() |