|
![]() | ![]() | |
![]() |
![]() |
|
![]() |
Главная Патентный отдел Технологии Справочник ГРНТИ Прием Наши координаты Обратная связь | ![]() |
![]() |
![]()
|
В данном разделе представлена краткая информация о технологии. Для получения полной информации о технологии, ее разработчиках и производителях, Вам необходимо сделать Заказ (Нажмите на корзинку). После оплаты счета, который Вы получите автоматически, на Ваш email будут отправлены реквизиты предприятия, представившего данную информацию на нашем сайте.
Прецизионный и высокопроизводительный неразрушающий контроль оптических параметров поверхностных микроструктур с высоким пространственным разрешением Уникальные возможности: • пространственное разрешение -10 мкм • область сканирования - 150x150 мм Гибкое и дружественное программное обеспечение в среде MS Windows 95/98/2000 позволяет: • получение графического изображения распределения толщин и оптических констант по площади измеряемой поверхности в виде - топограммы в условных цветах - трехмерной графики • моделирование и анализ многослойных и композиционных структур |
![]() |
![]() |
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А Сайт открыт 01.11.2000 © 2000-2018 Промышленная Сибирь |
Разработка дизайна сайта: Дизайн-студия "RayStudio" |
![]() |