|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И НЕЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ВЕЛИЧИН |  |
Номер публикации патента: 2077023 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01B007/00 | | Аналоги изобретения: | 1. Авторское свидетельство СССР N 257032, кл. G 01 B 7/00, 1969. 2. Авторское свидетельство СССР N 1173328, кл. G 01 R 19/00, 1985. |
| Имя заявителя: | Ташкентский государственный технический университет им.А.Р.Беруни (UZ) | | Изобретатели: | Юсупбеков Нодирбек Рустамбекович[UZ]
Азимов Акил Адылович[UZ]
Гулямов Шухрат Маннапович[UZ]
Азимова Гульнара Эркиновна[UZ] | | Патентообладатели: | Ташкентский государственный технический университет им.А.Р.Беруни (UZ) |
Реферат | |
Использование: в отраслях промышленности, где требуется осуществить контроль параметров различной физической природы, например, для измерения потоков теплового излучения в энергетических установках, при актинометрических измерениях в атмосфере и космосе. В известном способе, основанном на последовательном измерении исследуемой величины Х, мультипликативной тестовой величины Кx и образцовой меры Xэ, дополнительно измеряют мультипликативную тестовую величину КХэ, а истинное значение исследуемой величины определяют из соотношения: X = (Y2 - Y1/Y4 - Y3) · Xэ, где Y1 - результат измерения исследуемой величины Х; Y2 - результат измерения мультипликативной тестовой величины Кx; Y3 - результат измерения образцовой величины Хэ; Y4 - результат измерения мультипликативной тестовой величины КХэ; K - коэффициент преобразования мультипликативного теста. 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента