SU 1827575 A1, 15.07.1993. SU 1675738 A1, 23.08.1991. SU 1587403 A1, 23.08.1990. RU 2068993 С1, 10.11.1996.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный горный институт имени Г.В. Плеханова (технический университет)" (RU)
Изобретатели:
Лодус Евгений Васильевич (RU) Таланов Дмитрий Юрьевич (RU) Зуев Борис Юрьевич (RU) Ромашкевич Алексей Анатольевич (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный горный институт имени Г.В. Плеханова (технический университет)" (RU)
Реферат
Изобретение относится к испытательной технике, к способам и устройствам для исследования деформационных свойств материалов при изучении их демпфирующих свойств. Технический результат - обеспечение исследования демпфирующих свойств на одном образце с приложением нагрузок к разным концам образца. Способ исследования демпфирующих свойств материалов заключается в том, что образец исследуемого материала нагружают циклами затухающих колебаний механической нагрузки, а в повторных циклах меняют уровни нагрузок. Затухающие колебания в цикле поочередно производят с разными концами образца, а в повторных циклах меняют уровни и соотношение нагрузок на разные концы образца. Устройство для исследования демпфирующих свойств материалов содержит основание, установленные на нем неподвижный и два подвижных захвата образца, ось вращения, штангу, установленную на оси вращения, груз, закрепленный на штанге, приспособление для соединения штанги с подвижными захватами, согласно изобретению, приспособление для соединения штанги с подвижными захватами выполнено в виде коромысла, установленного на оси штанги и жестко с ней связанного, подвижные захваты закреплены на разных концах коромысла, неподвижный захват закреплен на оси штанги, ось штанги выполнена с возможностью поворота относительно основания, между осью и основанием размещен фиксатор поворота оси штанги, при этом штанга выполнена упругой. 2 н.п. ф-лы, 1 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента