Промышленная Сибирь Ярмарка Сибири Промышленность СФО Электронные торги НОУ-ХАУ Электронные магазины Карта сайта
 
Ника
Ника
 

Поиск патентов

Как искать?
Реферат
Название
Публикация
Регистрационный номер
Имя заявителя
Имя изобретателя
Имя патентообладателя

    





Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»


РЕФЛЕКТОМЕТР

Номер публикации патента: 2091762

Вид документа: C1 
Страна публикации: RU 
Рег. номер заявки: 94020463 
  Сделать заказПолучить полное описание патента

Редакция МПК: 
Основные коды МПК: G01N021/55    
Аналоги изобретения: 1. Афанасьев В.А. Оптические измерения. - М.: Машиностроение, 1981, с. 136 - 138. 2. Заявка ЕПВ N 0075442, кл. G 01 M 11/02, 1983. 

Имя заявителя: Акционерное общество открытого типа "Лыткаринский завод оптического стекла" 
Изобретатели: Шаров А.А.
Понин О.В.
Белоусов С.П. 
Патентообладатели: Акционерное общество открытого типа "Лыткаринский завод оптического стекла" 

Реферат


Использование: изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для определения отражающей способности зеркально отражающих поверхностей. Изобретение может быть использовано для контроля качества просветляющих, отражающих и полупрозрачных покрытий, нанесенных на поверхности оптических деталей. Сущность изобретения: пучок лучей от источника света, работающего от стабилизированного блока питания, освещает через конденсатор входной торец передающего волоконно-оптического жгута, который передает свет на диафрагму, равномерно освещая ее. За диафрагмой расположен объектив, оптическая ось которого направлена по нормали к исследуемой оптической поверхности. Плоскость предметов объектива совпадает с плоскостью диафрагмы, а плоскость изображений - с вершиной исследуемой поверхности. Это совпадение обеспечивается при помощи фокусирующего устройства, перемещающего друг относительно друга переднюю часть рефлектометра и исследуемую поверхность. Таким образом, диафрагма изображается на элементарном участке исследуемой поверхности, который при размере изображения диафрагмы много меньшем радиуса кривизны исследуемой оптической поверхности, можно рассматривать как плоский. Отраженные от исследуемой поверхности лучи в обратном ходе через объектив формируют автоколлимационное изображение диафрагмы в масштабе 1:1 на самой диафрагме. Свет, отраженный исследуемой поверхностью, поступает на входной торец приемного жгута, а затем на фотоприемник, по амплитуде электрического сигнала которого судят об отражающей способности исследуемой оптической поверхности. 4 з.п. ф-лы, 4 ил.


Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь
Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"