|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСТАТОЧНОЙ ДЕФЕКТНОСТИ ИЗДЕЛИЯ ПОСЛЕ ДВУХ ИЛИ БОЛЕЕ НЕРАЗРУШАЮЩИХ КОНТРОЛЕЙ |  |
Номер публикации патента: 2263296 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N003/00 | | Аналоги изобретения: | RU 2006813 C1, 30.01.1994. SU 1389422 А, 27.02.1996. SU 606124 А, 05.05.1978. СТЕПНОВ М.Н. "Статистические методы обработки результатов механических испытаний" Справочник, М.: "Машиностроение", 1985, стр.74-78. "Статистические методы обработки эмпирических данных" Рекомендации, М.: "Издательство стандартов", 1978, стр.84-85. SU 1017957 А, 15.05.1983. |
| Имя заявителя: | Закрытое акционерное общество "Координационный центр по надежности, безопасности и ресурсу оборудования и трубопроводам атомных электростанций" (КЦНБРАС) (RU) | | Изобретатели: | Махутов Н.А. (RU)
Тутнов А.А. (RU)
Гетман А.Ф. (RU)
Ловчев В.Н. (RU)
Гуцев Д.Ф. (RU)
Кураков Ю.А. (RU)
Драгунов Ю.Г. (RU)
Зубченко А.С. (RU)
Григорьев М.В. (RU)
Калиберда И.В. (RU)
Нигматулин Б.И. (RU)
Карзов Г.П. (RU)
Васильев В.Г. (RU)
Просвирин А.В. (RU)
Конев Ю.Н. (RU)
Тутнов А.А. (RU)
Тарасенкова Г.И. (RU)
Васильченко Г.С. (RU) | | Патентообладатели: | Закрытое акционерное общество "Координационный центр по надежности
безопасности и ресурсу оборудования и трубопроводам атомных электростанций" (КЦНБРАС) (RU) |
Реферат | |
Данные изобретения относятся к неразрушающему контролю (НК) в процессе изготовления, монтажа и эксплуатации изделий. Данные изобретения направлены на повышение достоверности и упрощение процедуры определения количества дефектов, остающихся в изделии после нескольких НК. Способ определения остаточной дефектности изделия после двух и более НК заключается в том, что определяют достоверность применяемого метода НК Рj по вероятности выявления дефектов, лежащих в определенных интервалах их размеров j=1
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента