На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ЭТАПОВ ФОРМИРОВАНИЯ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ЭЛЕКТРОННО - КОЛЕБАТЕЛЬНЫХ СПЕКТРОВ | ![](Images/non.gif) |
Номер публикации патента: 2178165 | ![](Images/empty.gif) |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01N021/00 | Аналоги изобретения: | RU 2071049 C1, 27.12.1996. RU 2045041 C1, 27.09.1995. CN 1190738 A, 19.08.1998. US 4242589 A, 30.12.1980. US 5739909 A, 14.04.1998. |
Имя заявителя: | Институт химии Коми научного центра Уральского отделения РАН | Изобретатели: | Щанов М.Ф. Рябков Ю.И. Ненин А.Н. | Патентообладатели: | Институт химии Коми научного центра Уральского отделения РАН |
Реферат | ![](Images/empty.gif) |
Изобретение относится к области контроля состояния вещества. Для диагностирования этапов формирования кристаллической решетки в аморфном веществе определяются параметры электронно-колебательных спектров примесных центров, наблюдается изменение относительной интенсивности спектра и выносится суждение о возникновении зародышей кристаллической фазы по появлению бесфононных линий, по появлению фононного крыла с энергией 1-10 см-1 - о развитии ближнего порядка структуры новой фазы (первая координационная сфера), по появлению фононного крыла с энергией 10-100 см-1 - о наличии второй координационной сферы, по появлению фононного крыла с энергией 100 см-1 и более - о формировании дальнего порядка кристаллической фазы. Технический результат: позволяет диагностировать фазовые состояния плохо раскристаллизованных веществ. 2 ил.![](/cgi-bin/gettiff.dll?f=00000001&npubl=2178165)
|