На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НЕРАВНОМЕРНОСТИ ТЕМПЕРАТУРНОГО ПОЛЯ | ![](Images/non.gif) |
Номер публикации патента: 2051342 | ![](Images/empty.gif) |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01K007/00 | Аналоги изобретения: | 1. Фогельсон И.Б. Транзисторные термодатчики. М.: Советское радио, 1972, с.31-33. |
Имя заявителя: | Институт кибернетики им.В.М.Глушкова АН Украины (UA) | Изобретатели: | Скрипник Юрий Алексеевич[UA] Химичева Анна Ивановна[UA] Кондратов Вячеслав Тимофеевич[UA] | Патентообладатели: | Институт кибернетики им.В.М.Глушкова АН Украины (UA) |
Реферат | ![](Images/empty.gif) |
Использование: в измерительной технике для определения неравномерности температурных полей. Сущность изобретения: с целью уменьшения погрешности разности температур за счет исключения влияния на результат измерения индивидуальных параметров полупроводниковых диодов в базисную точку поля помещают опорный полупроводниковый диод, а в первую и последующие точки контроля измерительные полупроводниковые диоды.
|