

	Главная Патентный отдел Технологии Справочник ГРНТИ Прием Наши координаты Обратная связь

Поиск патентов

Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

Патентный отдел

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»

Вернуться к списку

СПОСОБ И УСТРОЙСТВО КОНТРОЛЯ ПРИ ПОМОЩИ ТЕНЕВОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ

Номер публикации патента: 2358259

Вид документа:	C1
Страна публикации:	RU
Рег. номер заявки:	2006133937/28

Получить полное описание патента

Редакция МПК:	7
Основные коды МПК:	G01N021/952
Аналоги изобретения:	JP 10288588 А, 27.10.1998. JP 8307909 А, 22.11.1996. SU 1810801 A1, 23.04.1993. JP 11295228 A, 29.11.1999. US 4227806 A, 14.10.1980.

Имя заявителя:	КОММИССАРИАТ А Л`ЭНЕРЖИ АТОМИК (FR),КОМПАНИ ЖЕНЕРАЛЬ ДЕ МАТЬЕР НЮКЛЕЭР (FR)
Изобретатели:	ШАНЬО Кристоф (FR)
Патентообладатели:	КОММИССАРИАТ А Л`ЭНЕРЖИ АТОМИК (FR) КОМПАНИ ЖЕНЕРАЛЬ ДЕ МАТЬЕР НЮКЛЕЭР (FR)

Реферат

Устройство контроля содержит узел кронштейна, излучатель света, приемник света, излучаемого источником. Также дополнительно содержит штангу с двумя противоположными концами, на которых устанавливают источник и приемник, и двойной регулируемый шарнир, при помощи которого штангу устанавливают на кронштейне.

Вернуться к списку

Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь

Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"