Группа изобретений относится к области измерительной техники, в частности к машинам для трехмерных измерений для измерения погрешности механических деталей и к способу трехмерного измерения координат механической детали, подлежащей измерению. Способ для набора из N заданных точек поверхности механической детали относительно предварительно определенной системы отсчета, направляющие косинусы теоретических нормалей (Nthij) к которой известны в теоретических точках, соответствующих N заданным точкам, заключается в том, что на подготовительной фазе измеряют координаты N точек, соответствующих заданным N точкам поверхности первой механической детали, принимаемой в качестве стандартной детали, относительно заданной системы отсчета, на фазе инициализации одновременно и соответственно считывают N линейных измерений смещения вдоль упомянутых нормалей в N точках стандартной детали, на фазе измерения считывают N измерения линейного смещения, одновременно и соответственно проведенные в N точках детали, подлежащей измерению, N точкам стандартной детали, а на фазе вычисления вычисляют трехмерные координаты N точек детали, подлежащей измерению, исходя из трехмерных координат N точек стандартной детали, из линейных измерений и из направляющих косинусов N теоретических нормалей в этих точках. Способ осуществляется при помощи машины для трехмерных измерений, содержащей вычислительный модуль, управляющий модуль и измерительный стол, по меньшей мере, одну матрицу датчиков смещения, расположенных таким образом, что в нерабочем положении деталь устанавливается на столе, а в закрытом положении все датчики вводятся в рабочий контакт с измеряемой деталью. При этом вычислительный модуль конфигурирован для трехмерного измерения координат для набора из N заданных точек поверхности механической детали относительно предварительно определенной системы отсчета. Технический результат - упрощение процедуры контроля сложных по форме деталей при обеспечении точности отображения сложной поверхности детали. 2 н. и 8 з.п. ф-лы, 7 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента