КИФЕР И.И. Испытания ферромагнитных материалов, 3-е изд. - М., 1969 ЧЕЧУРИНА Е.Н. Приборы для измерения магнитных величин. - М., 1969. SU 1781650 А1 (Ларинов И.И. др.), 15.12.1992. RU 2357241 С1 (Меньших О.Ф.), 27.11.2007. JP 2008014920 A (KEYCOM CORP), 24.01.2008. US 2009230954 А1 (JAMET MATTHIEU), 17.09.2009. GB 1468852 A (SIDERURGIE FSE INST RECH), 30.03.1977. UA 24138 U (KHARKIV POLYTECHNICAL INST NAT), 25.07.2007.
Имя заявителя:
Открытое акционерное общество "Научно-Исследовательский Институт-Тантал" (RU), ГОУ ВПО "Саратовский Государственный университет имени Н.Г. Чернышевского" (RU)
Изобретатели:
Игнатьев Александр Анатольевич (RU) Куликов Михаил Николаевич (RU) Ляшенко Александр Викторович (RU) Васильев Александр Васильевич (RU) Маслов Андрей Алексеевич (RU)
Патентообладатели:
Открытое акционерное общество "Научно-Исследовательский Институт-Тантал" (RU) ГОУ ВПО "Саратовский Государственный университет имени Н.Г. Чернышевского" (RU)
Реферат
Изобретение относится к области магнитных измерений, а именно к измерению магнитных параметров наноматериалов, содержащих ферромагнитные наночастицы. Способ измерения магнитных параметров наноматериалов включает измерение спектра ФМР. Затем осуществляют калибровку установки по эталонному образцу. При этом измерение параметров ферромагнитного резонанса проводится в постоянном магнитном поле при сканировании частоты СВЧ-сигнала при одновременной регистрирации четырех S-параметров. Причем для каждого параметра определяются его модуль и фаза, так что для фиксированного магнитного поля соответствующая резонансная частота и ширина линии ФМР находятся как среднее значение восьми измерений, что существенно повышает точность их определения и позволяет оценить среднеквадратичную погрешность случайных ошибок. Технический результат изобретения - расширение частотного диапазона и повышение точности измерения при малой трудоемкости. 1 табл., 2 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента