На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ ОТЕКА ГОЛОВНОГО МОЗГА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | ![](Images/non.gif) |
Номер публикации патента: 2136207 | ![](Images/empty.gif) |
Редакция МПК: | 6 | Основные коды МПК: | A61B005/05 | Аналоги изобретения: | Сергиенко Т.И. и др. Дифференциальная диагностика и лечение отека и набухания головного мозга путем импедансометрии. Вопросы нейрохирургии, 1990, вып.4, с.6-8. SU 1827160 А1, 01.08.90. |
Имя заявителя: | Омский научно-исследовательский институт приборостроения | Изобретатели: | Чернышев А.К. Рябоконь Д.С. Ясинский И.М. Звягинцев И.В. | Патентообладатели: | Омский научно-исследовательский институт приборостроения |
Реферат | ![](Images/empty.gif) |
Изобретение относится к медицине и может быть использовано для диагностики отека головного мозга путем импедансометрии. Технический результат состоит в повышении точности диагностики. В способе используют катушку индуктивности, которая является составной частью резонансного колебательного контура, содержащего дополнительно конденсатор, включенный параллельно обмотке катушки, измеряют импеданс колебательного контура на резонансной частоте без биологического объекта и с биологическим объектом, размещенным внутри обмотки измерительной катушки индуктивности, рассчитывают отношение полученных значений и при величине 1,4 и более диагностируют отек головного мозга. Устройство содержит генератор высокой частоты, к выходу которого подключена последовательная цепь, содержащая балластное сопротивление и две клеммы, параллельно которым подключен вход измерительного блока, снабжено резонансным колебательным контуром, содержащим измерительную катушку индуктивности и конденсатор, включенные параллельно, причем выводы контура соединены с клеммами устройства. При проведении измерения импеданса головы пациента бесконтактным способом фиксируются высокочастотные потери всех составляющих. 2 с.п. ф-лы, 3 ил.
|