RU 2189041 C1, 10.09.2002. SU 1436981 A1, 15.11.1988. UA 9649 U, 17.10.2005. ЗЕНОВКО Г.М. Термография в хирургии. - М.: Медицина, 1998, с.168. ГАЛЬПЕРИН М. Л. Эндоабдоминальная термотопография в норме и при острых хирургических заболеваниях органов брюшной полости. Актуальные вопросы хирургической гастроэнтерологии. 1987, с.171-172. ГРИДИН А.В.Сканирующая компьютерная термография в интраоперационной диагностике заболеваний поджелудочной железы. Материалы XXII пленума правления Всесоюзного общества хирургов и V съезда хирургов Казахстана (20-22 сент.1990 г.). 1990, с.197. HOWARD T.J et al. Declining morbidity and mortality rates in the surgical management of pancreatic necrosis. // J. Gastrointest Surg. 2007, Jan. 11(1), 43-49.
Имя заявителя:
Закрытое акционерное общество "СЕМ Технолоджи" (RU)
Изобретатели:
Паршиков Владимир Вячеславович (RU) Фирсова Виктория Глебовна (RU) Потехина Юлия Павловна (RU) Градусов Виктор Петрович (RU)
Патентообладатели:
Закрытое акционерное общество "СЕМ Технолоджи" (RU)
Реферат
Изобретение относится к медицине и может быть использовано для диагностики осложнений при остром панкреатите. Для этого измеряют температуру в области над инфильтратом поджелудочной железы. Кроме того измеряют температуру в точке сравнения на 2,5-3,5 см выше середины паховой связки. При повышении температуры в точке над инфильтратом не менее чем на 0,7°С по сравнению с температурой точки сравнения и сохранении данного изменения в течение 3 суток делают заключение о возможности формирования абсцесса или флегмоны поджелудочной железы. При понижении температуры не менее чем на 0,7°С по сравнению с температурой точки сравнения и сохранении данного изменения в течение 3 суток делают заключение о формировании обширной зоны некроза с возможным исходом в кисту. Способ позволяет повысить достоверность диагностики осложнений при остром панкреатите при простоте, доступности и дешевизне методики, также позволяет проводить ежедневный мониторинг у постели больного, выработать своевременную стратегию лечения. 1 з.п. ф-лы.
Поиск патентов
Получить полное описание патента