KRUTH J. и др. «On-line monitoring and process control in selective laser melting and laser cutting», proceedings of the 5тн LANE 2007. Erlangen, Germany. JP 2007190576 A, 02.08.2007. SU 1635017 A1, 15.03.1991. RU 2258589 C1, 20.08.2005. RU 35433 U1, 01.10.2004.
Имя заявителя:
Государственное научное учреждение "Институт физики имени Б.И. Степанова Национальной академии наук Беларуси" (BY), Национальная инженерная школа Сент.Этьенна (FR)
Изобретатели:
Чивель Юрий Александрович (BY) СМУРОВ Игорь (FR) ЛАЖЕ Бернард (FR)
Патентообладатели:
Государственное научное учреждение "Институт физики имени Б.И. Степанова Национальной академии наук Беларуси" (BY) Национальная инженерная школа Сент.Этьенна (FR)
Реферат
Устройство для контроля лазерных технологических процессов содержит лазер со сканирующей и фокусирующей системой, узкополосный диодный лазер, двухканальный оптический пирометр, работающий в области от 1,1 до 2,5 мкм, и две видеокамеры. Одна видеокамера регистрирует изображение области обработки в спектральной области длин волн от 400 до 950 нм. Дополнительная видеокамера регистрирует изображение области обработки либо на длине волны лазера, либо на длине волны узкополосного диодного лазера. Технический результат - расширение функциональных возможностей. 1 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента