На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРА КРИСТАЛЛА В РОСТОВОЙ УСТАНОВКЕ | |
Номер публикации патента: 2176689 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | C30B015/26 | Аналоги изобретения: | US 4794263 A1, 27.12.1988. КОЗЛОВСКИЙ Г.П. и др. Оптическое устройство контроля диаметра кристалла на установках "Редмет-8". Тр. Всесоюзного научно-исследовательского и конструкторского института "Цветметавтоматика". 1975, вып.8, с. 62-64. US 4350557 A1, 21.09.1982. US 4617173 A1, 14.10.1986. WO 98/09007 A1, 05.03.1998. |
Имя заявителя: | Институт автоматики и электрометрии СО РАН | Изобретатели: | Кузнецов С.А. Зюбин В.Е. Булавский Д.В. | Патентообладатели: | Институт автоматики и электрометрии СО РАН |
Реферат | |
Изобретение относится к области выращивания кристаллов в ростовых установках. Сущность изобретения: посредством измерителя, установленного под углом к расплаву, определяют положение границы между кристаллом и расплавом. При этом одновременно определяют положение границы между кристаллом и расплавом посредством другого идентичного измерителя, установленного в плоскости, проходящей через ось вращения кристалла и ось измерителя, и на основе полученных данных рассчитывают диаметр кристалла и уровень
|