SU 312534 A1, 25.12.1977. RU 2099632 C1, 20.12.1997. RU 2344338 C1, 20.01.2009. SU 1536159 A1, 15.01.1990.
Имя заявителя:
ГОСУДАРСТВЕННОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ "ДАГЕСТАНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ" (ДГТУ) (RU)
Изобретатели:
Ахмедов Ганапи Янгиевич (RU)
Патентообладатели:
ГОСУДАРСТВЕННОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ "ДАГЕСТАНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ" (ДГТУ) (RU)
Реферат
Изобретение относится к теплоэнергетике и может быть использовано для определения толщины и плотности отложений в оборудовании химических, нефтехимических предприятий, а также тепловых, геотермальных, атомных энергоустановок. Изобретение основано на измерении температуры поверхности стенки теплообменного оборудования и среды на некотором расстоянии от внутренней стенки в жидкости и их сравнении. Определение плотности отложений производят за счет того, что измерение температуры среды в оборудовании проводят от внутренней стенки к жидкости ступенчато с шагом в 1-2 мм, при этом сравнение температуры среды и жидкости внутри теплообменного оборудования проводят также и относительно внутренней стенки оборудования. Технический результат: повышение точности определения толщины отложений на внутренней поверхности теплообменного оборудования. 1 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента