На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | |
Номер публикации патента: 2237865 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01B011/30 G01B009/02 | Аналоги изобретения: | US 4201473 A, 06.05.1980. ЕР 0144510 А1, 20.07.1984. US 5933236 A, 03.08.1999. |
Имя заявителя: | Открытое акционерное общество "ЛОМО" (RU) | Изобретатели: | Скворцов Ю.С. (RU) Трегуб В.П. (RU) | Патентообладатели: | Открытое акционерное общество "ЛОМО" (RU) |
Реферат | |
Система для интерферометрического измерения отклонения формы оптических поверхностей содержит источник излучения, светоделительный блок, устройство для изменения оптической длины хода луча, первый фильтр-конденсор, состоящий из конденсорной линзы, в фокальной плоскости которой установлена диафрагма, первый и второй светоделительные элементы, интерферометр, состоящий из контролируемой и эталонной поверхностей, первую проекционную систему, которая вместе с объективом проецирует первую интерференцио
|