|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРА ТОНКИХ ПРОТЯЖЕННЫХ НИТЕЙ |  |
Номер публикации патента: 2310159 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B011/08 | | Аналоги изобретения: | SU 1293481 A1, 28.02.1987. ЕР 0924493 А, 23.06.1999. SU 1357701 A1, 07.12.1987. US 5015867 A, 14.05.1991. US 572646 A, 15.09.1977. |
| Имя заявителя: | Конструкторско-технологический институт научного приборостроения СО РАН (КТИ НП СО РАН) (RU) | | Изобретатели: | Чугуй Юрий Васильевич (RU)
Яковенко Николай Андреевич (RU)
Ялуплин Михаил Дмитриевич (RU) | | Патентообладатели: | Конструкторско-технологический институт научного приборостроения СО РАН (КТИ НП СО РАН) (RU) |
Реферат | |
Способ измерения диаметра тонких протяженных нитей включает освещение нитей источником света, прием дифракционного изображения нитей путем регистрации интенсивности экстремальных точек дифракционной картины и его последующую обработку с вычислением диаметра нити. Прием дифракционного изображения нитей осуществляют путем регистрации интенсивности экстремальных точек дифракционной картины, возникающей в результате интерференции проходящей волны света с дифрагированной волной, соответствующей дифрак
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента