|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ |  |
Номер публикации патента: 2011164 |  |
| Имя заявителя: | Парнасов Владислав Серафимович | | Изобретатели: | Ольховко Э.Л.
Парнасов В.С.
Тумулькан А.Д. | | Патентообладатели: | Парнасов Владислав Серафимович |
Реферат | |
Изобретение относится к измерительной технике и позволяет повысить точность измерения толщины многоэлементного покрытия переменного состава. Облучают вспомогательные образцы из материалов с близкими атомными номерами к материалу покрытия пучками бета-излучения с энергиями E1 и E2 и каждый раз регистрируют интенсивности обратнорассеянного бета-излучения, пучок с граничной энергией E1 выбирают с условием обеспечения насыщения интенсивности потока обратнорассеянного бета-излучения, интенсивность n(E
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента