|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| РЕНТГЕНОПРОФИЛОГРАФ АКТИВНОГО КОНТРОЛЯ |  |
Номер публикации патента: 2304272 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B015/08 | | Аналоги изобретения: | RU 2258203 C1, 10.08.2005. SU 1384950 A1, 30.03.1988. SU 1298542 A1, 23.03.1987. SU 1208474 A, 30.01.1986. RU 2239918 С2, 10.11.2004. SU 1762318 A1, 15.09.1992. US 5481360 A, 02.01.1996. GB 2142427 A, 16.01.1985. |
| Имя заявителя: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Орловский государственный технический университет" (ОрелГТУ) (RU) | | Изобретатели: | Белкин Евгений Александрович (RU) | | Патентообладатели: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Орловский государственный технический университет" (ОрелГТУ) (RU) |
Реферат | |
Использование: для контроля формирования микрорельефа поверхностного слоя в процессе абразивной обработки. Сущность заключается в том, что рентгенопрофилограф активного контроля содержит источник рентгеновского излучения, пучок от которого пропускается через кристаллический резонатор для получения монохроматического рентгеновского излучения, после чего направляется на кристаллическое зеркало, с помощью которого получают два пучка - объектный и опорный, опорный пучок направляется системой элементо
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента