RU 2231753 С1, 27.06.2004. RU 2121659 C1, 10.11.1998. RU 2052769 C1, 20.01.1996. JP 6058751 A, 04.03.1994. JP 2003214834 A, 30.07.2003.
Имя заявителя:
Закрытое акционерное общество научно-исследовательский институт интроскопии Московского научно-производственного объединения "Спектр" (ЗАО НИИИН МНПО "Спектр") (RU)
Изобретатели:
Алехин Сергей Геннадиевич (RU) Бобров Владимир Тимофеевич (RU) Дурейко Андрей Владимирович (RU) Козлов Владимир Николаевич (RU) Самокрутов Андрей Анатольевич (RU) Шевалдыкин Виктор Гавриилович (RU)
Патентообладатели:
Закрытое акционерное общество научно-исследовательский институт интроскопии Московского научно-производственного объединения "Спектр" (ЗАО НИИИН МНПО "Спектр") (RU)
Реферат
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и неразрушающего контроля, а именно к методам измерения толщины, определения текстурной анизотропии и напряженно-деформированного состояния конструкций и проката из черных и цветных металлов и сплавов в широком диапазоне толщин при одностороннем доступе, дефектоскопии и структуроскопии различных материалов и изделий, и предназначено для применения в металлургии, машиностроении, в авиастроении, автомобилестроении и других отраслях промышленности. Техническим результатом изобретения является расширение области применения и повышение точности. Способ реализуется при помощи толщиномера, содержащего генератор 1 зондирующих импульсов (ГЗИ), УЗ преобразователь 2, приемный усилитель 3 (ПУ), аналого-цифровой преобразователь 4 (АЦП), блок 5 программируемой логики (БПЛ) с оперативным запоминающим устройством 6 (ОЗУ), центральный процессор 7 (ЦП) со своим ОЗУ 8 (ОЗУП), блок 9 индикации (БИ) результатов контроля и блок 10 индикации использованного метода измерения (по автокорреляционной функции или по первому эхоимпульсу, так называемого порогового) или невозможности измерения. 1 з.п. ф-лы, 3 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента