|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ |  |
Номер публикации патента: 2086917 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01B021/20 | | Аналоги изобретения: | Авторское свидетельство СССР N 1765691, кл. G 01 B 11/26, 1992. |
| Имя заявителя: | Леун Евгений Владимирович | | Изобретатели: | Леун Евгений Владимирович
Коренев Михаил Стефанович | | Патентообладатели: | Леун Евгений Владимирович
Коренев Михаил Стефанови |
Реферат | |
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к лазерной интерферометрии, и может быть использовано для контроля отклонений формы. Технический результат -повышение точности и расширение диапазона измерений. Результат достигается тем, что устройство содержит источник монохроматического излучения и оптически связанные с ним уголковый отражатель, установленный на каретке, акустический модулятор, коллиматор и фотоприемник, между входом фотоприемника и электрическим входом акустического модулятора последовательно включены система автоподстройки частоты и линия задержки с переменным значением задержки. 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента