|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ДИАГНОСТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА С ОПТИЧЕСКИМИ ДАТЧИКАМИ (ВАРИАНТЫ) |  |
Номер публикации патента: 2141102 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01D005/353 | | Аналоги изобретения: | GB 21452367 A, 20.03.95. EP 0438757 A2, 31.07.91. SU 1338547 A, 24.12.85. |
| Имя заявителя: | Юнайтид Текнолоджиз Копэрейшн (US) | | Изобретатели: | Данфи Джеймс Р. (US)
Фалкович Кеннит П. (US) | | Патентообладатели: | Юнайтид Текнолоджиз Копэрейшн (US) | | Номер конвенционной заявки: | PCT/US 94/13628 | | Страна приоритета: | WO |
Реферат | |
Система используется для детектирования механических деформаций, перепадов температур. Система включает перестраиваемый узкополосный источник светового излучения, генерирующий световое излучение с переменной длиной волны, направляя его в светопроводящее волокно. По длине волокна расположены отражательные датчики, например, типа решеток Брэгга. Датчики пропускают световое излучение с длиной волны, соответствующей пропускным минимумам этих датчиков и изменяющейся под влиянием действующего на них возмущения. Контур перестройки длины волны управляет перестраиваемым источником света, обеспечивая сканирование генерируемого светового излучения в заранее определенной области длин волн с целью индивидуального освещения каждого датчика светом с длиной волны, соответствующей его пропускному минимуму. Мощность этого пропускаемого датчиками светового излучения преобразуется детектором в электрический сигнал, который обрабатывается контуром обработки сигналов. Контур обработки сигналов выявляет провалы профиля мощности светового, излучения, воспринятого детектором, вырабатывает выходные сигналы, несущие информацию о параметрах возмущения, действующего на каждый датчик. Система может быть разомкнутой без обратной связи для измерения статических деформаций или замкнутой с обратной связью для отслеживания изменения статических деформаций и измерения динамических деформаций. Система может также применяться по схеме Фабри-Перо, обеспечивая при этом очень высокую чувствительность к деформациям. Система может переключаться на работу в режиме отражения или режиме пропускания светового излучения датчиками. 3 с. и 26 з.п.ф-лы, 6 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента