|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИКО - ФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ОБЪЕКТОВ |  |
Номер публикации патента: 2107281 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N021/21 G01J004/04 | | Аналоги изобретения: | SU, авторское свидетельство, 1734237, кл. H 04 N 17/00, 1992. |
| Имя заявителя: | Йелстаун Корпорейшн Н.В. (NL) | | Изобретатели: | Будак Владимир Павлович[RU]
Селиванов Владимир Арнольдович[RU] | | Патентообладатели: | Йелстаун Корпорейшн Н.В. (NL) |
Реферат | |
Устройство предназначено для измерения оптико-физических параметров протяженных объектов и может быть использовано для дистанционного контроля параметров покрытий, полимерных пленок, а также определения загрязнений акваторий, для геологических и астрофизических исследований, в метеорологии. Используется несколько оптических ветвей, каждая из которых включает в себя четыре измерительных канала. Оптическая ветвь содержит два линейных поляризатора, ослабитель, циркулярный поляризатор, каждый из которых связан со светофильтром, телевизионной камерой и АЦП, блоки вычисления степени поляризации, азимута поляризации, эллиптичности и интенсивности. Оптические ветви ориентированы в одной плоскости с угловым расстоянием относительно друг друга, равным 180/N, где N - количество оптических ветвей. Устройство позволяет измерять поляризационные признаки объектов, которые можно использовать для классификации и распознавания, а также для решения задачи определения свойств наблюдаемых объектов по результатам поляризационных измерений. 7 ил. , 1 табл.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента