|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СИСТЕМА И СПОСОБ ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ РАСПРОСТРАНЕНИЯ ДЕФЕКТОВ В ДЕТАЛИ ИЛИ КОНСТРУКЦИИ |  |
Номер публикации патента: 2263888 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01M003/26 G01N019/08 | | Аналоги изобретения: | WO 9427130 A1, 24.11.1994. |
| Имя заявителя: | СТРАКЧЕРАЛ МОНИТОРИНГ СИСТЕМЗ ЛТД. (AU) | | Изобретатели: | ДЭЙВИ Кеннет Джон (AU) | | Патентообладатели: | СТРАКЧЕРАЛ МОНИТОРИНГ СИСТЕМЗ ЛТД. (AU) |
Реферат | |
Изобретение относится к области испытательной техники и предназначено для обнаружения и измерения распространения дефектов в детали или конструкции. Техническим результатом изобретения является обеспечение возможности непрерывного контроля детали или конструкции для индикации на ранней стадии их возможного повреждения и контроля роста повреждения или трещины.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента