US 5131263 А, 21.07.1992. JP 2002098611 A, 05.04.2002. JP 58158533 A, 20.09.1983. US 5309752 A, 10.05.1994. SU 1357737 A1, 07.12.1987.
Имя заявителя:
АйДиСи, ЭлЭлСи (US)
Изобретатели:
КАММИНГЗ Уилльям Дж. (US)
Патентообладатели:
АйДиСи, ЭлЭлСи (US)
Приоритетные данные:
27.09.2004 US 60/613,385 25.03.2005 US 11/090,775
Реферат
Изобретения относятся к области контрольно-измерительной и испытательной техники и используются для детектирования утечек в электронных устройствах без их разрушения. Изобретения направлены на повышение точности и удобства испытания корпусов электронных устройств на целостность. Этот результат обеспечивается за счет того, что для испытания используют электронное устройство, имеющее внутреннее пространство, причем электронное устройство не содержит контрольного (испытательного) газа. Размещают электронное устройство в среде, содержащей контрольный газ при атмосферном давлении, причем контрольный газ может диффундировать во внутреннее пространство электронного устройства. Размещают электронное устройство в среде, содержащей неконтрольный газ при атмосферном давлении и не содержащей контрольный газ. Детектируют контрольный газ, который вытекает из электронного устройства или из внутреннего пространства электронного устройства, при этом среду контрольного и неконтрольного газа формируют в одной камере. 4 н. и 46 з.п. ф-лы, 17 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента