US 2005122473 A1, 09.06.2005. US 2003071969 A1, 17.04.2003. US 2002196428 A1, 26.12.2002. EP 1796142 A1, 13.06.2007.
Имя заявителя:
АЛЬКОН РИСЕРЧ, ЛТД. (US)
Изобретатели:
СИМПСОН Майкл Дж. (US)
Патентообладатели:
АЛЬКОН РИСЕРЧ, ЛТД. (US)
Приоритетные данные:
31.07.2007 US 60/952,913
Реферат
Способ может использоваться для измерения оптических свойств многофокусных офтальмологических линз. В способе пропускают свет через дифракционную линзу на массив элементарных линз, в котором каждая элементарная линза принимает часть света и в котором дифракционная линза имеет границу зоны, покрывающую, по меньшей мере, часть одной элементарной линзы. Измеряют свойства дифракционной линзы на основании света, сфокусированного массивом элементарных линз и зарегистрированного датчиком. Регулируют результат измерения для компенсации предполагаемых оптических свойств дифракционного компонента линзы в измерительной системе. Размытые пятна и/или двойные пятна могут представлять дифракционные зоны волнового фронта. Центроид пятна или более яркое из двух пятен можно использовать для определения поперечной позиции пятна. Теоретические расчеты, лабораторные измерения, клинические измерения и экспериментальные изображения пятен можно генерировать, сравнивать и взаимно проверять для определения эквивалентной однофокусной линзы. Технический результат - компенсация с помощью дифракционных линз оптических эффектов, обусловленных тем, что волновой фронт не является гладким и непрерывным, и локальные наклоны индивидуальных зон и нарушения непрерывности на дифракционных ступеньках влияют на положение пятна. 2 н. и 14 з.п. ф-лы, 19 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента