|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОЦЕНКИ МИКРОТВЕРДОСТИ |  |
Номер публикации патента: 2231040 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N003/44 | | Аналоги изобретения: | SU 1111065 А, 30.08.1984. RU 2153157 C1, 20.07.2000. RU 2132546 С1, 27.06.1999. SU 932371 А, 30.05.1982. SU 1385024 А, 30.03.1988. US 4534212 А, 13.08.1985. EP 0130326 A1, 09.01.1985. US 5299450 А, 05.04.1994. |
| Имя заявителя: | Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный Ядерный Центр - Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики им акад. Е.И.Забабахина" (RU) | | Изобретатели: | Собко С.А. (RU) | | Патентообладатели: | Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный Ядерный Центр - Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики им акад. Е.И.Забабахина" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к методикам оценки механических свойств тонких покрытий и неравномерных по свойствам поверхностных слоев. Способ оценки микротвердости заключается в определении значений микротвердости на поверхности образца по размеру восстановленного отпечатка при различных нагрузках на индентор и построении графика зависимости твердости от глубины отпечатка.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента