ТЯГУНОВ Г.В. Установка для измерения кинематической вязкости металлических расплавов. Ж. "Заводская лаборатория", 10, 1980, с.919-920. RU 2349898 C1, 20.03.2009. SU 1778628 A1, 30.11.1992. SU 868470 A1, 30.09.1981. JP 56122933 A, 26.09.1981.
Имя заявителя:
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н.Ельцина" (RU)
Изобретатели:
Поводатор Аркадий Моисеевич (RU) Конашков Виктор Васильевич (RU) Вьюхин Владимир Викторович (RU) Цепелев Владимир Степанович (RU)
Патентообладатели:
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н.Ельцина" (RU)
Реферат
Предлагаемый способ относится к технической физике, а именно - к устройствам для контроля и измерения физических параметров веществ, и предназначен для бесконтактного измерения вязкости высокотемпературных металлических расплавов, например аморфизующихся стальных расплавов, нестационарным методом на основе затухания крутильных колебаний цилиндрического тигля с расплавом. Способ бесконтактного измерения вязкости высокотемпературных расплавов основан на освещении световым лучом от источника света зеркала, расположенного на закручиваемой упругой нити, на которой подвешен тигель с расплавом. Затем осуществляют регистрацию посредством фотоприемного устройства параметров траектории светового луча, отраженного от этого зеркала. Далее производят измерение полученного сигнала, отражающего амплитудно-временные параметры затухания крутильных колебаний тигля с расплавом, подвешенного на упругой нити. Причем в процессе регистрации параметров траектории отраженного от зеркала светового луча периодически осуществляют регулировку смещения текущей нулевой линии - изолинии траектории светового луча, путем поддержания минимального отличия последующих измеряемых параметров колебаний отраженного от зеркала светового луча по отношению к предыдущему значению.
Поиск патентов
Получить полное описание патента