|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОФИЛЯ МЕНИСКА ЖИДКОСТИ |  |
Номер публикации патента: 2108563 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N013/02 | | Аналоги изобретения: | SU, авторское свидетельство, 703759 А, кл. G 01 N 13/00, 1979. Никитин А.К., Рыжова Т.А. Регулирование контраста изображения и глубины резкости в ПЭВ-микроскопии. Письма в ЖТФ, 1996, т. 22, вып. 9, с. 14 - 17. |
| Имя заявителя: | Российский университет дружбы народов | | Изобретатели: | Никитин А.К. | | Патентообладатели: | Российский университет дружбы народов |
Реферат | |
Изобретение относится к оптической контрольно-измерительной технике и может быть использовано для физико-химического анализа жидкостей и поверхности твердых тел, в частности для определения смачивающей способности жидкости, изучения процессов растекания и испарения жидкостей, для определения коэффициента поверхностного натяжения жидкостей. Способ наиболее эффективен при определении профиля мениска жидкости в непосредственной близости от линии раздела поверхности образца и свободной поверхности жидкости. Сущность изобретения заключается в том, что в способе определения профиля мениска жидкости, включающем приведение в контакт образца и исследуемой жидкости, освещение участка образца, примыкающего к мениску, монохроматическим излучением, преобразование падающего излучения в поверхностную электромагнитную волну (ПЭВ) и воздействие ею на мениск, регистрацию отраженного излучения и определение распределения толщины слоя жидкости в мениске, возбуждение ПЭВ осуществляют излучением, которое фокусируют в плоскости его падения, а распределение толщины жидкости в мениске определяют по величине угла падения соответствующего наиболее эффективному возбуждению ПЭВ. 3 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента