|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ НАНЕСЕНИЯ ПРОБЫ СУСПЕНЗИИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ЧАСТИЦ И СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРОВ И ЧИСЛА ЧАСТИЦ В СУСПЕНЗИИ |  |
Номер публикации патента: 2092810 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N015/02 G01N015/06 | | Аналоги изобретения: | 1. US, патент, 4395493, кл. G 01N 1/00, 1984. 2. SU, патент, 1838772, кл. G 01N 1/28, 1993. 3. SU, авторское свидетельство, 1643993, кл. G 01N 15/02, 1991. |
| Имя заявителя: | Акционерное общество закрытого типа Научно-производственное предприятие "Парус" | | Изобретатели: | Побелянский Э.Г.
Ничиков А.В. | | Патентообладатели: | Акционерное общество закрытого типа Научно-производственное предприятие "Парус" |
Реферат | |
Использование: в медицине, порошковой металлургии, металлокерамике и т. п. при исследовании микрочастиц, а именно определении их размеров и числа. Сущность изобретения: способ нанесения пробы суспензии для исследования частиц состоит в подготовке пробы и формировании из нее монослоя в виде полосы постоянной ширины на смачиваемой поверхности путем взаимного перемещения с постоянной скоростью заданного объема пробы и указанной поверхности. В процессе подготовки пробы ее разводят в жидкости-консерванте с растворенным в ней полимером, концентрация которого составляет 4-10%, и в процессе формирования получают монослой, фиксированный тонкой полимерной пленкой. Способ определения размеров и числа частиц в суспензии заключается в нанесении заданного объема пробы на смачиваемую поверхность, освещении поверхности с частицами пучком света при ее равномерном перемещении перпендикулярно оптической оси системы и в последующем анализе полученных данных оптоэлектронными методами. При нанесении на поверхность пробы частицы фиксируют полимерной пленкой. Покрытую пленкой поверхность освещают через измерительную диафрагму оптической системы и снимают интегрально-дифференциальные кривые оптического поглощения излучения, прошедшего через покрытые пленкой частицу и область вокруг нее. Горизонтальный размер частицы определяют по длительности выходного сигнала, толщину частицы - по максимальной положительной амплитуде сигнала при входе или выходе частицы из проекции измерительной диафрагмы, одновременно по форме сигнала определяют тип частицы, а число однотипных частиц определяют по количеству однотипных сигналов. 2 з.п. ф-лы, 13 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента