|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ИЗЛУЧЕНИЯ ТЕЛ |  |
Номер публикации патента: 2102724 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N021/55 G01J005/00 | | Аналоги изобретения: | ГОСТ 7601/78. JP, патент, 462009, кл. G 01 J 5/00, 1994. |
| Имя заявителя: | Научно-исследовательский институт комплексных испытаний оптико-электронных приборов и систем ВНЦ "ГОИ им.С.И.Вавилова" | | Изобретатели: | Красикова Т.А.
Павлов Н.И.
Сидоровский Н.В.
Шеволдин В.А.
Шуба Ю.А. | | Патентообладатели: | Научно-исследовательский институт комплексных испытаний оптико-электронных приборов и систем ВНЦ "ГОИ им.С.И.Вавилова" |
Реферат | |
Изобретение относится к области измерений в теплофизике и теплотехнике. Сущность изобретения: способ включает измерения интенсивностей излучения в отраженном видимом свете на масштабном макете тела со специальным модельным покрытием и помещенном в фотометрический шар. В качестве модельного покрытия подбирают материал, индикатриса отражения которого в видимом диапазоне совпадает с индикатрисой отражения действительного покрытия тела в ИК- области спектра. Фотометрическим устройством регистрируют интенсивности отраженного излучения каждого элемента масштабного макета тела и эталона и по их отношениям вычисляют коэффициенты яркости βρ(2π,xy) . Коэффициенты теплового излучения каждого элемента тела (xy) определяют по формуле: ε(T,xy) = 1 - βρ(2π,xy) , где βρ(2π,xy) - коэффициент яркости отражения полусферической подсветкой из 2π стерадиан элемента наблюдаемой проекции тела с координатами (xy), ε(T, xy) - коэффициент теплового излучения этого же элемента тела. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента