|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПРОПУСКАНИЯ, КРУГОВОГО ДИХРОИЗМА, ОПТИЧЕСКОГО ВРАЩЕНИЯ ОПТИЧЕСКИ АКТИВНЫХ ВЕЩЕСТВ И ДИХРОГРАФ ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2135983 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N021/19 | | Аналоги изобретения: | SU, 1469363 AI, 30.03.89. Полике Т. и др. Комбинированный спектрофотометр для измерения спектров электронного поглощения, естественного кругового дихроизма и магнитного кругового дихроизма.-ПНИИ, т. 62, № 8, 1990, с. 36. US, 5252488 A, 12.10.93. GB, 1143364 A, 19.02.69. US, 3602597 A, 31.08.71. |
| Имя заявителя: | Рокос унд Ко., Лтд. (CZ) | | Изобретатели: | Иржи Рокос (CZ) | | Патентообладатели: | Рокос унд Ко., Лтд. (CZ) | | Номер конвенционной заявки: | PV 2566-93 | | Страна приоритета: | CZ |
Реферат | |
Изобретение предназначено для параллельного измерения кругового дихроизма, соответствующего первой гармонике фотоэлектрического тока детектора, оптического вращения, соответствующего второй гармонике, и пропускания, соответствующего нулевой гармонике. Дихрограф содержит переключатель пучка, который создает два поочередно выходящих параллельных пучка - измеряемый пучок и эталонный пучок, которые проходят через общий модулятор эллиптичности, ахроматический фазовый элемент, который при калибровке единиц кругового дихроизма располагается на пути эталонного пучка, кроме того, он содержит два анализатора - измерительный анализатор на пути измеряемого пучка после кюветы и сравнительный анализатор на пути эталонного пучка. Измерительный анализатор имеет оптическую ось, которая повернута на 45° по отношению к оси модулятора. Сравнительный анализатор во время измерений поворачивают на градуировочный угол, например на 1°, по отношению к измерительному анализатору. Изобретение позволяет осуществлять одновременное измерение всех трех указанных характеристик или определять, какую из оптических характеристик можно определить для реально тестируемого вещества. 2 с. и 4 з.п. ф-лы, 4 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента