|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ АЛЬБЕДО |  |
Номер публикации патента: 2145077 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N021/55 | | Аналоги изобретения: | Дмитриев А.А. К вопросу о методике изучения отражательных свойств земной поверхности. Метеорология и гидрология. - 1952, N 12. SU 1396008 A1, 15.05.88. SU 1733979 A1, 15.05.92. US 5445453 A, 29.08.95. |
| Имя заявителя: | Селиванов Сергей Николаевич | | Изобретатели: | Селиванов С.Н. | | Патентообладатели: | Селиванов Сергей Николаевич |
Реферат | |
Изобретение относится к неразрушающим методам контроля интегральных параметров лучистого теплообмена мобильных и стационарных объектов окружающей среды. Технический результат, обеспечиваемый изобретением, состоит в исключении или максимальной нейтрализации искажающего влияния, привносимого от неорганизованного фона. Новым в способе является то, что при определении альбедо ограниченного фрагмента объекта, содержащего характерную для данного объекта отражающую поверхность и не менее одного инородного включения и/или неорганизованного неопределенно дифференцированно отражающего фона с иными, не характерными для данного объекта или фрагмента отражательными свойствами, исследуемому фрагменту, и/или инородному включению или включениям, и/или неорганизованному неопределенно дифференцированно отражающему фону искусственно придают круговую форму, или форму не менее чем одного кольца, или их сочетаний со стабилизированными отражательными характеристиками путем наложения кругового и/или не менее одного кольцевого экрана или путем образования его или их временным нанесением отражательного вещества на соответствующие участки отражающей поверхности объекта или его фрагмента с образованием не менее двух концентрических отражающих полей, над центром круга или кольца размещают последовательно не менее чем на двух выбранных высотах прибор с чувствительным к измеряемой радиации датчиком и производят измерения по крайней мере отраженной радиации с каждой из высот, а значения истинного альбедо определяют по приведенным формулам для различных вариантов образования исследуемого фрагмента. 13 з.п.ф-лы, 16 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента