|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЭЛЕМЕНТНОГО АНАЛИЗА ПУТЕМ СПЕКТРОМЕТРИИ ОПТИЧЕСКОЙ ЭМИССИИ НА ПЛАЗМЕ, ПОЛУЧЕННОЙ С ПОМОЩЬЮ ЛАЗЕРА |  |
Номер публикации патента: 2249813 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N021/71 G01N021/63 | | Аналоги изобретения: | ЕР 0654663 А1, 24.05.1995. RU 2127874 C1, 20.03.1999. RU 2110777 C1, 10.05.1998. US 4645342 А, 24.02.1987. |
| Имя заявителя: | КОММИССАРИАТ А Л`ЭНЕРЖИ АТОМИК (FR),КОМПАНИ ЖЕНЕРАЛЬ ДЕ МАТЬЕР НЮКЛЕЭР (FR) | | Изобретатели: | ЛАКУР Жан-Люк (FR)
ВАГНЕР Жан-Франсуа (FR)
ДЕТАЛЛЬ Винсент (FR)
МОШЬЕН Патрик (FR) | | Патентообладатели: | КОММИССАРИАТ А Л`ЭНЕРЖИ АТОМИК (FR)
КОМПАНИ ЖЕНЕРАЛЬ ДЕ МАТЬЕР НЮКЛЕЭР (FR) |
Реферат | |
Область использования - измерительная техника. Устройство содержит импульсный лазерный источник, средства фокусирования света от этого источника на объект, подвергаемый анализу, для получения плазмы на поверхности объекта, средство анализа спектра излучения плазмы, средство определения элементного состава объекта на основе этого анализа и, возможно, средство для смещения объекта.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента