|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ТВЕРДЫХ ТЕЛ В ИНФРАКРАСНОМ ДИАПАЗОНЕ СПЕКТРА |  |
Номер публикации патента: 2263923 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R027/26 G01N021/21 | | Аналоги изобретения: | АЛИЕВА Е.А. и др. Исследование кристаллов в средней и длинноволновой ИК-области методом спектроскопии поверхностных электромагнитных волн. Физика твердого тела. 1998, т.40, №2, с.237-241. US 5625455 А, 29.04.1997. ЕР 0921402 А2, 09.06.1999. WO 02/095372 A1, 28.11.2002. SU 1765786 А1, 30.09.1992. |
| Имя заявителя: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "РОССИЙСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ДРУЖБЫ НАРОДОВ" (РУДН) (RU) | | Изобретатели: | Жижин Г.Н. (RU)
Никитин А.К. (RU)
Рыжова Т.А. (RU) | | Патентообладатели: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "РОССИЙСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ДРУЖБЫ НАРОДОВ" (РУДН) (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к области оптики конденсированных сред и может быть использовано для определения оптических постоянных твердых тел. Способ определения диэлектрической проницаемости твердых тел в инфракрасном диапазоне спектра включает разделение пучка падающего монохроматического излучения на реперный и измерительный пучки, возбуждение падающим излучением поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ) на плоской поверхности образца, пробег ПЭВ двух различных макроскопических расстояний, регистр
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента