|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ АНАЛИЗА ПРИМЕСЕЙ И ЦЕНТРОВ ОКРАСКИ ВО ФТОРИДЕ И СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ОРИЕНТИРОВАННОГО МАТЕРИАЛА ДЛЯ ВЫРАЩИВАНИЯ МОНОКРИСТАЛЛА |  |
Номер публикации патента: 2310829 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N021/31 | | Аналоги изобретения: | SATO H. et al. Induced Absorption Phenomena, Thermoluminescence and Colour Centres in KMgF, BaLiF and LiCaAlF Complex Fluorides. Japanese Journal of Applied Phisics. V.41, p.1, №4а, April 2002, p.2002-2033. SU 1795738 A1, 27.09.1995. JP 2001023884 A, 26.01.2001. JP 2002234795 A, 23.08.2002. |
| Имя заявителя: | СТЕЛЛА КЕМИФА КОРПОРЕЙШН (JP) | | Изобретатели: | ФУКУДА Цугуо (JP)
КИКУЯМА Хирохиса (JP)
САТОНАГА Томохико (JP)
СОГАМИ Казухико (JP) | | Патентообладатели: | СТЕЛЛА КЕМИФА КОРПОРЕЙШН (JP) |
Реферат | |
Изобретение относится к анализу примесей (центров окраски) во фториде и получению ориентированного материала для выращивания монокристалла. Способ анализа включает облучение рентгеновскими лучами материала и сравнение коэффициентов пропускания до и после облучения. По полученным данным оптимизируют условия плавления, что позволяет выращивать из высокочистого расплавленного исходного материала монокристалл, менее подверженный повреждению рентгеновским излучением.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента