На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО КОНТРОЛЯ ПРИ ПОМОЩИ ТЕНЕВОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ | |
Номер публикации патента: 2358259 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01N021/952 | Аналоги изобретения: | JP 10288588 А, 27.10.1998. JP 8307909 А, 22.11.1996. SU 1810801 A1, 23.04.1993. JP 11295228 A, 29.11.1999. US 4227806 A, 14.10.1980. |
Имя заявителя: | КОММИССАРИАТ А Л`ЭНЕРЖИ АТОМИК (FR),КОМПАНИ ЖЕНЕРАЛЬ ДЕ МАТЬЕР НЮКЛЕЭР (FR) | Изобретатели: | ШАНЬО Кристоф (FR) | Патентообладатели: | КОММИССАРИАТ А Л`ЭНЕРЖИ АТОМИК (FR) КОМПАНИ ЖЕНЕРАЛЬ ДЕ МАТЬЕР НЮКЛЕЭР (FR) |
Реферат | |
Устройство контроля содержит узел кронштейна, излучатель света, приемник света, излучаемого источником. Также дополнительно содержит штангу с двумя противоположными концами, на которых устанавливают источник и приемник, и двойной регулируемый шарнир, при помощи которого штангу устанавливают на кронштейне.
|