SU 1789948 A1, 23.01.1991. RU 2060487 C1, 20.05.1996. ГОСТ 3520-92, 28.01.1992. Гуревич М.М. «Фотометрия. Теория, методы и приборы.» 2-е изд., перераб. и доп. - Л.: Энергоатомиздат, 1983, 233-235 с.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Алтайский государственный технический университет им. И.И. Ползунова" (АлтГТУ) (RU)
Изобретатели:
Пронин Сергей Петрович (RU) Кононова Екатерина Сергеевна (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Алтайский государственный технический университет им. И.И. Ползунова" (АлтГТУ) (RU)
Реферат
Способ измерения показателя ослабления, заключающийся в освещении объекта и преобразовании оптического сигнала, прошедшего через объект, в электрический системой измерения. Со стороны объекта, противоположной расположению системы измерения, устанавливают с возможностью контакта с объектом тест-объект, выполненный из расположенных на темном фоне трех групп парных светлых штрихов с высокой, средней и низкой пространственными частотами. Для преобразования оптического сигнала в электрический используют систему измерения в виде видеокамеры, подключенной к компьютеру и размещенной от тест-объекта на расстоянии, большем фокусного расстояния объектива видеокамеры. Осуществляют настройку системы измерения, используя эталонный объект, при этом после освещения тест-объекта и прохождения света через эталонный объект на экране монитора создают действительное изображение тест-объекта, на высокой пространственной частоте которого наблюдают нулевой контраст. Формируют для действительного изображения профиль сигнала на высокой пространственной частоте с фиксацией наибольшего значения сигнала и на средней частоте с фиксацией наименьшего значения сигнала между двумя штрихами. По полученным значениям сигналов вычисляют начальный контраст. Заменяют эталонный объект на исследуемый и проводят аналогичные измерения, по данным которых определяют показатель ослабления по формуле:
Поиск патентов
Получить полное описание патента