RU 2168166 С2, 27.05.2001. RU 2239179 C1, 27.10.2004. SU 810205 A1, 07.03.1981. US 6475168 В1, 05.11.2002. US 4523806 A, 18.06.1985.
Имя заявителя:
Маклашевский Виктор Яковлевич (RU)
Изобретатели:
Кеткович Андрей Анатольевич (RU) Маклашевский Виктор Яковлевич (RU) Маклашевская Светлана Владимировна (RU)
Патентообладатели:
Маклашевский Виктор Яковлевич (RU)
Реферат
Использование: для неразрушающего контроля изделий и материалов. Сущность заключается в том, что рентгенооптический эндоскоп содержит корпус с расположенными в нем оптически сопряженными рентгеновским и визуально-оптическим каналами для визуализации изображения объекта, при этом в рентгенооптический эндоскоп дополнительно введены второе полупрозрачное зеркало, установленное на оси объектива между ним и первым полупрозрачным зеркалом, микролазер, установленный на оси, проходящей через центр второго полупрозрачного зеркала перпендикулярно к ней, и формирующий на объекте яркую точку, положение которой на объекте совпадает с точкой пересечения оси объектива с поверхностью объекта, два идентичных генератора лазерных линий, плоскости распространения плоских световых пучков генераторов взаимно перпендикулярны и формируют на поверхности объекта изображения двух взаимно перпендикулярных полосок, точка пересечения которых совпадает с точкой, формируемой микролазером оптического канала при расстоянии от объекта до торца рентгенолюминесцентного преобразователя Lo, при котором линейное поле зрения визуально-оптического канала совпадает с размером зоны, визуализируемой рентгенооптическим каналом и полностью вписано в растр цветной ПЗС-матрицы, в качестве осветителя использован расположенный рядом с объективом светодиод, яркость и цветность излучения которого регулируются с помощью электронного блока питания, на экране дисплея располагается линейная метрическая шкала с ценой деления К, с помощью которой определяют размер S дефектов. Технический результат: обеспечение возможности согласования существенно различных характеристик рентгеновского и оптического каналов. 7 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента