На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
РЕНТГЕНОВСКИЙ СПОСОБ ПРЯМОГО ИЗМЕРЕНИЯ УПРУГИХ МАКРОНАПРЯЖЕНИЙ В ПОВЕРХНОСТНОМ СЛОЕ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ И ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ ОБРАЗЕЦ ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ | |
Номер публикации патента: 2349907 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01N023/20 | Аналоги изобретения: | ПРОХОРОВ А.М. ФИЗИЧЕСКАЯ ЭНЦИКЛОПЕДИЯ. - М.: БСЭ, 1994, т.4, с.364, 365, 377, 378. SU 624150 A1, 15.09.1978. SU 1474462 A1, 23.04.1989. SU 1420491 А1, 30.08.1988. SU 1520410 A1, 07.11.1989. GB 1460859 A, 06.01.1977. JP 2005201804 А, 28.07.2005. JP 8320264 A, 03.12.1996. |
Имя заявителя: | Кочаров Эдуард Авакович (RU) | Изобретатели: | Кочаров Эдуард Авакович (RU) | Патентообладатели: | Кочаров Эдуард Авакович (RU) |
Реферат | |
Использование: для измерения упругих макронапряжений в поверхностном слое поликристаллических материалов. Сущность: заключается в том, что осуществляют облучение рентгеновскими лучами с выбранными параметрами поверхности объекта контроля с фиксацией дифракционной картины лучей на экране компьютера, затем рентгеновскими лучами с теми же параметрами облучают измерительный образец с известными равнопеременными упругими напряжениями по его длине, дифракционную картину от которого накладывают на дифра
|