US 6449334 B1, 10.09.2002. JP 11316198 A, 16.11.1999. JP 10318943 A, 04.12.1998. US 5600700 A, 04.02.1997. SU 1583806 A1, 07.08.1990. RU 2095795 C1, 10.11.1997.
Имя заявителя:
ЦИНГХУА УНИВЕСИТИ (CN), НУКТЕК КОМПАНИ ЛИМИТЕД (CN)
ЦИНГХУА УНИВЕСИТИ (CN) НУКТЕК КОМПАНИ ЛИМИТЕД (CN)
Приоритетные данные:
19.05.2006 CN 200610011943.X
Реферат
Использование: для детектирования рентгеновского излучения. Сущность заключается в том, что детекторная решетка содержит первую линейную решетку для детектирования первого луча и второго луча, имеющих различные энергетические уровни, которые проходят через первое множество частей досматриваемого объекта, чтобы получить первые величины и вторые величины для первого множества частей, в которой второй луч формируется поочередно с первым лучом и вторую линейную решетку, расположенную параллельно первой линейной решетке для детектирования первого луча и второго луча, которые проходят через второе множество частей досматриваемого объекта, чтобы получить третьи величины и четвертые величины для второго множества частей досматриваемого объекта, в котором первое множество частей досматриваемого объекта частично идентично второму множеству частей досматриваемого объекта. Технический результат: повышение эффективности досмотра при сканировании объектов. 6 н. и 12 з.п. ф-лы, 4 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента