SU 448413 A1, 30.10.1974. US 2001046275 A1, 29.11.2001. US 5930326 A, 27.07.1999. US 5696806 A, 09.12.1997. WO 2005098400 A2, 20.10.2005. RU 2265830 C2, 10.12.2005.
Имя заявителя:
Эмерикэн Сайэнс энд Энджиниэринг, Инк. (US)
Изобретатели:
РОТШИЛЬД Питер Дж. (US)
Патентообладатели:
Эмерикэн Сайэнс энд Энджиниэринг, Инк. (US)
Приоритетные данные:
23.08.2006 US 60/823,328
Реферат
Использование: для определения характеристик объекта с помощью проникающего излучения. Сущность: заключается в том, что определение характеристик объекта производится на основе средней длины свободного пробега проникающего излучения, при этом осуществляют формирование падающего пучка проникающего излучения, характеризующегося направлением распространения и распределением энергии, размещают группы детекторных элементов в зоне пучка проникающего излучения, в которой каждый из детекторных элементов характеризуется полем обзора, коллимируют поле обзора каждого детекторного элемента, детектируют излучение, рассеянное группой вокселей проверяемого объекта, в котором каждый воксель является пересечением поля обзора по меньшей мере одного из детекторных элементов с направлением распространения падающего пучка проникающего излучения, и вычисляют ослабление рассеянного проникающего излучения между парами вокселей, в котором каждый воксель из указанной пары соответствует по меньшей мере одному из двух направлений распространения падающего пучка проникающего излучения. Технический результат: обеспечение более точного определения характеристик контролируемого объекта. 13 з.п. ф-лы, 11 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента