US 5406608 A, 11.04.1995. US 2006088139 A1, 27.04.2006. WO 2006047267 A2, 04.05.2006. US 2005086275 A1, 21.04.2005. US 4263510 A, 21.04.1981. SU 1832190 A1, 07.08.1993. SU 1257482 A1, 15.09.1986. SU 1317342 A1, 15.06.1987.
Использование: для рентгеновского элементного и кристаллографического анализа образца. Сущность: заключается в том, что устройство для выполнения как рентгеновского дифракционного анализа (XRD), так и рентгеновского флюоресцентного анализа (XRF) кристаллического образца, содержит: откачиваемую камеру; держатель образца, расположенный в откачиваемой камере, для установки кристаллического образца так, чтобы его можно было анализировать; рентгеновский источник флюоресценции, установленный в откачиваемой камере, для облучения кристаллического образца рентгеновским излучением; установку регистрации XRF для регистрации вторичного рентгеновского излучения, испущенного с поверхности кристаллического образца в результате облучения рентгеновским излучением от указанного рентгеновского источника флюоресценции; при этом устройство содержит: рентгеновский источник дифракции, также установленный в откачиваемой камере, но отделенный от рентгеновского источника флюоресценции, для облучения кристаллического образца рентгеновским излучением; установку регистрации XRD для регистрации рентгеновского излучения характеристической длиной волны, которая была дифрагирована кристаллическим образцом; и подвижный опорный узел XRD, содержащий первую часть, выполненную с возможностью установки источника XRD, для перемещения источника XRD относительно держателя образца, и вторую часть, выполненную с возможностью установки регистрации XRD для перемещения установки регистрации XRD относительно держателя образца. Технический результат: обеспечение возможности более достоверного проведения как рентгеновского дифракционного анализа (XRD), так и рентгеновского флюоресцентного анализа (XRF) кристаллического образца. 12 з.п. ф-лы, 4 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента