|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЕВ ДВУХСЛОЙНЫХ ПРОВОДЯЩИХ МАТЕРИАЛОВ |  |
Номер публикации патента: 2217735 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N025/32 G01B007/06 | | Аналоги изобретения: | СУВОРОВ Л.М. Термоэлектрический метод измерения толщины гальванических покрытий. - Заводская лаборатория, 1964, №8, с.959-962. SU 1776980 A1, 23.11.1992 RU 2084819 C1, 20.07.1997. RU 2167392 C2, 20.05.2001. |
| Имя заявителя: | Орловский государственный технический университет | | Изобретатели: | Корндорф С.Ф.
Ногачева Т.И.
Углова Н.В. | | Патентообладатели: | Орловский государственный технический университет |
Реферат | |
Изобретение относится к измерительной технике. При термоэлектрическом способе контроля толщины слоев электропроводящих двухслойных материалов, заключающемся в определении толщины слоя по термоэлектродвижущей силе, развиваемой в результате возникновения разности температур по толщине слоев при контакте одной из поверхностей контролируемого материала с горячим и холодным наконечниками, в качестве наконечников используют головки одинаковых термопар, позволяющих измерять температуру в местах контакта
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента