ХВАТОВ Л.А. и др. Распознавание дефектов при магнитоферрозондовом контроле. Дефектоскопия. 1984, 6, с.63-71. SU 1718645 С, 27.12.1995. RU 2029269 C1, 20.02.1995. RU 2094781 C1, 27.10.1997.
Имя заявителя:
ООО "НПП Уралавиаспецтехнология" (RU)
Изобретатели:
Смыслов Анатолий Михайлович (RU) Смыслова Марина Константиновна (RU) Годовский Дмитрий Александрович (RU) Мингажев Аскар Джамилевич (RU) Селиванов Константин Сергеевич (RU) Гордеев Вячеслав Юрьевич (RU) Новиков Антон Владимирович (RU)
Патентообладатели:
ООО "НПП Уралавиаспецтехнология" (RU)
Реферат
Изобретение относится к способам дефектоскопии. В способе производят настройку прибора магнитной дефектоскопии по эталонному бездефектному объекту контроля, имеющего нормальную температуру, затем при той же температуре снимают параметры с контролируемой лопатки. Дополнительно производят снятие параметров материала лопатки при температуре эксплуатации, для чего нагревают эталонный объект контроля до температуры эксплуатации Тэк, настраивают по нему прибор магнитной дефектоскопии, затем производят нагрев контролируемой лопатки до той же температуры Тэк и повторное ее сканирование измерительным устройством, а по изменению полученных параметров судят об изменении состояния материала контролируемой лопатки. Настройку измерительных приборов производят по эталонным объектам контроля, в качестве которых используются эталонные лопатки с известным характером и степенью деградации. Технический результат - повышение информативности и достоверности оценки степени деградации материала лопатки из титановых сплавов. 7 з.п. ф-лы, 3 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента