|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ МАГНИТООПТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЯ |  |
Номер публикации патента: 2159426 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N027/82 G01N027/83 | | Аналоги изобретения: | WO 93/11427, 10.06.1993. DE 3423958 A1, 17.01.1985. WO 97/03353 30.01.1997. SU 452786, 05.12.1974. RU 2115114 C1, 10.07.1998. RU 94042647 A1, 20.09.1996. RU 2057328 C1, 27.03.1996. RU 2002249 C1, 30.10.1993. Гонда С., Сэко Д. Оптоэлектроника в вопросах и ответах. - Л.: Энергоатомиздат, 1989, с.28. |
| Имя заявителя: | Левый Сергей Васильевич (UA),Агалиди Юрий Сергеевич (UA) | | Изобретатели: | Левый Сергей Васильевич (UA)
Агалиди Юрий Сергеевич (UA) | | Патентообладатели: | Левый Сергей Васильевич (UA)
Агалиди Юрий Сергеевич (UA) |
Реферат | |
Изобретение относится к области прикладной магнитооптики, в частности к методам неразрушающего контроля материалов на наличие дефектов, и может быть использовано при выявлении дефектов в изделиях, которые содержат ферромагнитные материалы, а также в криминалистике. Предложенный способ включает прижимание гибкого магнитного носителя к поверхности контролируемого изделия, формирование магнитного поля, копирование магнитного поля при перемещении его вдоль поверхности изделия на гибкий магнитный носи
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента