На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ, В ЧАСТНОСТИ ФЕРРИТОВ | |
Номер публикации патента: 2255344 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01R027/26 G01N027/02 | Аналоги изобретения: | СУРЖИКОВ А.П. и др. Известия ВУЗов. Физика, №10, 2000, с.49-52. SU 995016 A, 07.02.1983. SU 575557 A, 26.10.1977. |
Имя заявителя: | Томский политехнический университет (RU) | Изобретатели: | Суржиков А.П. (RU) Гынгазов С.А. (RU) Малышев А.В. (RU) | Патентообладатели: | Томский политехнический университет (RU) |
Реферат | |
Использование: в контрольно-измерительной технике. Изобретение направлено на повышение точности определения диэлектрических характеристик поликристаллических материалов: величин действительной ’ и мнимой и ’’ частей диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь tg материала образца.
|