RU 2244917 C1, 20.01.2005. RU 2188411 C1, 27.08.2002. RU 16791 U1, 10.02.2001. RU 2073854 C1, 20.02.1997. SU 1749814 A1, 23.07.1992. WO 2005119237 A1, 15.12.2005. FR 2692675 A1, 24.12.1993. US 4655899 A, 07.04.1987.
Имя заявителя:
Общество с ограниченной ответственностью "СоЭкс" (RU)
Изобретатели:
Немиров Михаил Семенович (RU) Силкина Татьяна Георгиевна (RU) Тропынин Владимир Александрович (RU) Контуров Сергей Валерьевич (RU)
Патентообладатели:
Общество с ограниченной ответственностью "СоЭкс" (RU)
Реферат
Изобретение может быть использовано, например, в пищевой промышленности для определения превышения предельно допустимого количества нитратов в продуктах. Способ согласно изобретению включает измерение электрических параметров измеряемой среды продукта с помощью зонда. Содержание ионов в пищевом продукте определяют по формуле, связывающей величину напряжения на зонде при отсутствии влияния на него измеряемой среды продукта и высокочастотного сигнала на входе в зонд; величину напряжения на входе в зонд при подаче высокочастотного сигнала на вход зонда, но при отсутствии воздействия измеряемой среды продукта на зонд; величину напряжения на входе в зонд в режиме подачи высокочастотного сигнала на вход зонда и воздействия на зонд измеряемой среды продукта и калибровочного коэффициента. Также предложено устройство для осуществления данного способа, которое содержит в качестве индикатора дисплей, а также процессор, два импульсных конвертора, широтно-импульсный регулятор, амплитудный детектор и модулятор. Процессор соединен с двумя импульсными конверторами, дисплеем, широтно-импульсным регулятором, модулятором и амплитудным детектором. Один импульсный конвертор соединен с дисплеем, а другой импульсный конвертор - с широтно-импульсным регулятором, амплитудным детектором и модулятором. Модулятор и амплитудный детектор, кроме того, соединены с зондом, а источник питания соединен с процессором и импульсными конверторами. Изобретение обеспечивает повышение точности и стабильности измерений. 2 н. и 1 з.п. ф-лы, 1 ил., 1 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента