WO 2005074161 A1, 11.08.2005. US 6359444 B1, 19.03.2002. US 2004225199 A1, 11.11.2004. US 2003004403 A1, 02.01.2003. RU 1774242 A1, 07.11.1992.
Имя заявителя:
Джи-И Хелткер Био-Сайенсиз Корп. (US)
Изобретатели:
ВАНГ Хуа (US) ПОТИРАЙЛО Радислав А. (US) РАЙС Стивен Т. (US) ПИЦЦИ Винсент Ф. (US)
Патентообладатели:
Джи-И Хелткер Био-Сайенсиз Корп. (US)
Приоритетные данные:
21.11.2006 US 60/866,714
Реферат
Изобретение может быть использовано для исследования растворов на предмет их опасности. Предложена система (100) для измерения параметров растворов в контейнере (101). Контейнер (101) содержит раствор (101а). Защитный слой (105) нанесен поверх набора датчиков (103) и по меньшей мере одной стенки (101b) контейнера с обеспечением создания непроницаемого соединения между контейнером и указанным набором датчиков. Указанный набор датчиков выполнен с обеспечением наличия действующего электромагнитного поля, зависящего от толщины контейнера и защитного слоя. Указанный набор датчиков вместе с меткой (102) расположен вблизи анализатора (108) сопротивления и считывающего устройства (106), которые составляют измерительное устройство (111). Набор (103) выполнен с возможностью определения по меньшей мере одного параметра раствора. Метка (102) выполнена с возможностью обеспечения цифровой идентификации, связанной с набором датчиков, при этом контейнер (101) расположен вблизи считывающего устройства (106) и анализатора (108) сопротивления. Анализатор сопротивления выполнен с возможностью приема заданного диапазона частот от набора датчиков (103) исходя из измеренного комплексного сопротивления на заданном диапазоне частот. Изобретение обеспечивает возможность создания системы, предоставляющей возможность проведения простого неразрушающего анализа химического и/или биологического вещества в растворе в одноразовом биообрабатывающем устройстве, с помощью которой пользователь может безопасно получить измерения для данного вещества, а затем ликвидировать био-обрабатывающую систему. 6 н. и 18 з.п. ф-лы, 14 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента